Análisis

ICP-MS (Espectrometría de Masas con Plasma Acoplado Inductivamente) es una técnica de análisis inorgánico elemental e isotópico capaz de determinar y cuantificar la mayoría de los elementos de la tabla periódica en un rango dinámico lineal de 8 órdenes de magnitud ( ng/l – mg/l) además de poder llevar a cabo la determinación de los elementos en un análisis multielemental que provee la composición de la muestra analizada. Puede además llevar a cabo la cuantificación de la composición isotópica y estudios de la estabilidad de isótopos traza.

Permite el análisis simultáneo de muestras, (20-50 por día) dependiendo del número de elementos o isótopos a analizar. La mayoría de los elementos pueden ser analizados por esta técnica, a excepción de unos pocos elementos ligeros (H, He, C, N, O, F, Ne, Cl, Ar) y algunos actínidos.

El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por Scanning Electron Microscope), es una técnica de microscopía electrónica capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen.

XRF (X Ray Fluorescence, del inglés) es una técnica analítica no destructiva utilizada para determinar la composición elemental de materiales.

Los equipos de XRF permiten determinar la composición química de una muestra mediante la medición de la fluorescencia (o secundaria) de rayos X emitida desde una muestra cuando es excitado por una fuente de rayos X primaria. Cada uno de los elementos presentes en una muestra produce un conjunto de características rayos X fluorescentes («una huella digital») que es única para ese elemento específico, que es la razón por la espectroscopia de fluorescencia de rayos X es una excelente tecnología para el análisis cualitativo y cuantitativo de la composición del material.

La espectroscopia Raman es una técnica no destructiva, que sirve para analizar cualitativamente la composición molecular (pigmentos en los vidriados, minerales en las pastas, etc).

Se basa en los fenómenos de dispersión inelástica de la luz monocromática (generalmente de un láser) en el rango de luz visible, el infrarrojo cercano, o el rango ultravioleta cercano. La luz láser interactúa con la materia, provocando que la energía de los fotones del láser varíe. Esta variación de energía da es especifica para cada molécula actuando como «huella digital».

La difracción de rayos X es una técnica no destructiva para el estudio y análisis de materiales, basada en el fenómeno de difracción de los rayos X por sólidos en estado cristalino, como son los minerales presentes en las pastas cerámicas. 

Preparación de muestras para análisis arqueométrico:

En función de la técnica que se vaya a utilizar, se prepara siguiendo varios de los siguientes pasos.